德國(guó)費(fèi)希爾MP0涂層測(cè)厚儀
DUALSCOPE?MP0涂層測(cè)厚儀采用廣受認(rèn)可的Fischer探頭技術(shù)，是小巧并能zuida程度滿足您測(cè)量需要的儀器。它測(cè)量精度高、界面友好且結(jié)實(shí)耐用。對(duì)不復(fù)雜工件的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量尤為理想。內(nèi)置探頭，采用磁感應(yīng)及電渦流方法，可快速無(wú)損地測(cè)量涂鍍層厚度。DUALSCOPE?MP0自動(dòng)識(shí)別基材例如鐵或鋁并選擇適合的測(cè)量方法?？娠@示zui重要的統(tǒng)計(jì)參數(shù)。由于有著出色的重復(fù)精度及統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)功能，使得這款儀器在同級(jí)別產(chǎn)品中非常。
上圖：MP0涂層測(cè)厚儀有2個(gè)顯示屏
DUALSCOPE?MP0涂層測(cè)厚儀優(yōu)勢(shì)：
? 可在所有的金屬（鋼鐵或非鐵磁性金屬）基材上測(cè)量
? 儀器自動(dòng)識(shí)別鍍層下的基材材料并選擇相應(yīng)的測(cè)量方法
? 出色的重復(fù)精度
? 受基材透磁率、電導(dǎo)率和幾何形狀（曲率和厚度等）影響小
? 享有zhuanli的電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)（電渦流方法）
? 足夠小巧，甚至可以在比較難接觸到的區(qū)域進(jìn)行可靠的測(cè)量
上圖：MP0涂層測(cè)厚儀測(cè)量汽車油漆涂層厚度
DUALSCOPE?MP0涂層測(cè)厚儀為什么是理想選擇？
? 無(wú)需校準(zhǔn)即可測(cè)量。在被測(cè)件形狀或基材材質(zhì)發(fā)生大的改變時(shí)，單點(diǎn)校準(zhǔn)功能可修正這些影響并在選定的測(cè)量范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量
? 執(zhí)行簡(jiǎn)易的零點(diǎn)校正（歸一化）可在被測(cè)件形狀或基材材質(zhì)發(fā)生小的改變時(shí)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的測(cè)量
? 統(tǒng)計(jì)功能（包含平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、zuida值和zui小值）
? 快速的單手操作：將儀器放置于工件上即可看到測(cè)量讀數(shù)
? 兩個(gè)背光LCD顯示屏，可方便地在儀器的任何位置，甚至是頂部，看到讀數(shù)
? 自動(dòng)開機(jī)/關(guān)機(jī)功能
? 由于經(jīng)過(guò)加固處理及采用了有硬質(zhì)鍍層的探頭，儀器經(jīng)久耐用
? 輕巧，包含電池在內(nèi)僅重132克其他實(shí)用功能
? 連續(xù)測(cè)量模式可掃描工件表面涂鍍層厚度，例如：大容器結(jié)構(gòu)
? 可儲(chǔ)存1000個(gè)讀數(shù)
? 測(cè)量時(shí)有聲音和光學(xué)信號(hào)
? um和mils兩種單位
? 低電壓警示信息
DUALSCOPE MP0涂層測(cè)厚儀測(cè)量領(lǐng)域：
有色金屬涂層如鋅，鉻，銅和非導(dǎo)電涂層，如鋼鐵，鐵，鑄鐵，鎳和鈷等有色金屬基底上的油漆，漆，粉末，油漆和塑料涂層。
非導(dǎo)電/絕緣涂層，如鋁，銅，鉻，黃銅，不銹鋼等有色金屬基底上的涂料，陽(yáng)極氧化，漆，粉末，油漆和塑料涂料。
MP0涂層測(cè)厚儀測(cè)量鋁型材表面陽(yáng)極氧化厚度
MP0涂層測(cè)厚儀體積小巧，功能強(qiáng)大：
MP0非破壞性測(cè)量?jī)x器可以快速確定涂層厚度，并以FISCHER的精度達(dá)到預(yù)期的程度。憑借其兩個(gè)背光LCD和耐磨探頭，這些緊湊輕便的儀器是現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用的理想伴侶。樣品的幾何和滲透性對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響相對(duì)較小。此外，這些儀器具有非磁性基板材料的導(dǎo)電補(bǔ)償。表面是否粗糙或光滑，可以測(cè)量薄涂層。儀器根據(jù)磁感應(yīng)法（PERMASCOPE，用于鐵基底測(cè)量），渦流法（有色金屬基體的ISOSCOPE）或兩者（DUALSCOPE）進(jìn)行操作：鋁或鐵是否自動(dòng)檢測(cè)基材由DUALSCOPE的測(cè)量系統(tǒng)選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)量方法。
DUALSCOPE MP0涂層測(cè)厚儀輕松，快速，非破壞性地測(cè)量涂層厚度（在0-2000μm范圍內(nèi)），具有zui高的精度和精度。儀器顯示平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，MIN，MAX和每個(gè)程序段的測(cè)量次數(shù)。儀器啟用帶有自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)顯示的圖形顯示，以便在許多不同的儀器位置讀取測(cè)量結(jié)果。的非磁性基板材料測(cè)量電導(dǎo)率補(bǔ)償。樣品的形狀和滲透性對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響較小。
MP0涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：
量 程：0～2000μm。分辨率：0.00um
精 度：±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%（1000μm～2000μm）。
重復(fù)精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）。
zui小測(cè)量曲率直徑：在精度范圍內(nèi)，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm；
（在允許誤差＜10%時(shí)，鐵基為φ10mm，非鐵基為φ2mm）。
zui小測(cè)量面積直徑：φ4mm（在允許誤差＜10%時(shí)，為φ2mm）。
zui小基體厚度：鐵基0.2mm（誤差＜10%時(shí)）；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時(shí)）。
重 量：60g（不含電池）。
外形尺寸：64mm×30m×85mm。
電 源：兩節(jié)5號(hào)電池。
MP0涂層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)配置和訂貨號(hào)
? 主機(jī)含操作手冊(cè)： 604-329
? 2節(jié)1.5V電池 * ：603-534
? 校準(zhǔn)用鐵基材* ：603-477
? 校準(zhǔn)用鋁基材* ：603-488
? 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)75μm左右* ：603-479
MP0涂層測(cè)厚儀可以選配外置探頭
關(guān)于德國(guó)費(fèi)希爾：
位于德國(guó)Sindelfingen 的 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik，是一家有著超過(guò)55年歷史，在下述領(lǐng)域中處于領(lǐng)先地位的專業(yè)企業(yè):
? 鍍層厚度測(cè)量
? 材料分析
? 微硬度測(cè)量
? 材料測(cè)試
所有儀器由位于德國(guó)Sindelfingen的總部工廠研發(fā)，然后在德國(guó)和美國(guó)生產(chǎn)。憑借廣泛的經(jīng)驗(yàn)，與工業(yè)和研究部門的密切合作，我們可以為客戶的特定項(xiàng)目提供更佳的解決方案。
全球服務(wù)
本宣傳冊(cè)中的信息包含了一般化的描述或性能特點(diǎn)，可能并不適合所有已描述的具體應(yīng)用，或是由于產(chǎn)品更新會(huì)有更改。這些性能特征只有在合同中表述才具有約束力。DELTASCOPE?, ISOSCOPE?, DUALSCOPE?, FISCHERSCOPE?, FERITSCOPE?, MMS? and XDAL? 是德國(guó)Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik的注冊(cè)商標(biāo)。
FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL? ,采用x射線熒光法測(cè)量涂鍍層厚度和進(jìn)行材料分析FISCHERSCOPE? MMS? PC, 通用測(cè)量平臺(tái)系統(tǒng)，可采用磁感應(yīng)、電渦流和β背散射法進(jìn)行涂鍍層厚度測(cè)量和常見材料測(cè)試ISOSCOPE?, DELTASCOPE? and DUALSCOPE? 手提式儀器，配有內(nèi)置探頭或外置獨(dú)立探頭，可在現(xiàn)場(chǎng)快速簡(jiǎn)便測(cè)量涂鍍層厚度Helmut Fischer 集團(tuán)提供的專家咨詢和廣泛服務(wù)包括：
? 由技術(shù)銷售經(jīng)理提供的高質(zhì)量的咨詢服務(wù)
? 德國(guó)和美國(guó)的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室，可開發(fā)滿足客戶特殊測(cè)量要求的應(yīng)用程式
? 實(shí)用的培訓(xùn)課程和個(gè)別用戶的培訓(xùn)
? 德國(guó)Sindelfingen，取得DKD認(rèn)證資格的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn) 室，可對(duì)標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行鑒定
Helmut Fischer 集團(tuán)在全球所有的工業(yè)化中都派有代表。作為有著高質(zhì)量產(chǎn)品和廣受客戶肯定的企業(yè)，Helmut Fischer集團(tuán)的所有成員都已通過(guò)EN ISO 9001：2000質(zhì)量體系認(rèn)證。
