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日置LCR測試儀檢測線圈的錯誤

時間:2020-05-02 13:12:13 來源:上海日置 點擊:1468次

日置LCR測試儀檢測線圈的錯誤

日置LCR測試儀可以瞬間檢測線圈的繞圈開始、繞圈結束的錯誤

日置LCR測試儀的測試要點

· 使用日置LCR測試儀IM3523的相位測量功能,可以瞬間檢測出線圈的繞圈開始、繞圈結束的錯誤。而且,通過測量阻抗,可以檢查觸電、生產品和對比品的位置關系,這樣能進行更加可靠的檢查。

日置LCR測試儀檢測線圈的錯誤

●對比品(精選線圈:也可以是生產品)連接LCR測試儀IM3523的Lpot、Hpot端子。
●將Lcur、Hcur端子連接希望檢查卷線開始、卷線結束的生產品。這時,為了容易產生磁性結合,請將對比品和生產品放得的盡量靠近。LCR測試儀IM3523的測量項目設為θ(相位)和Z(阻抗)。
●由于生產品的泄漏磁通量,對比品會產生誘導電壓。
●若生產品的卷線開始、卷線結束存在錯誤,則對比品所產生的電壓的相位極性會和正常品有差別。利用 這點,可以檢測出卷線開始、卷線結束的錯誤。
●生產品和LCR測試儀IM3523的接觸不良、和對比品的位置差異不同的話,則有時也可能無法正常檢測出泄漏磁通量。通過以正常測量時的阻抗為標準,檢測出和其的差異,可以確認接觸檢查和位置關系。
※泄漏磁通量較少時,需要在初期階段時進行增加對比品的阻抗,增大磁性結合等的調整。

日置LCR測試儀檢測線圈的使用儀器

LCR測試儀IM3523
4端子探頭9500-10


日置LCR測試儀IM3523的介紹:

應用于生產線和自動化測試領域的理想選擇
● 基本精度±0.05%,測量范圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,可以以往產品10倍的速度不間斷測試。
● 內置比較器和BIN功能
● 2ms的快速測試時間
本產品不標配測量探頭和測試夾具。請結合應用單獨選擇和購買合適的測量探頭和測試夾具。所有探頭均帶有一個1.5D-2V的同軸電纜。RS-232C接口連接:交互連接可使用交叉電纜。您可使用RS-232C電纜9637,不需要硬件控制器。

 

日本日置LCR測試儀IM3523

可靠的產線檢查:接觸檢查功能
檢查4端子測量時樣品間的接觸不良。
 測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻,如果在所設置的閾值以上時則顯示錯誤。

日本日置LCR測試儀IM3523

日本日置LCR測試儀IM3523的技術參數(shù):

測量模式 LCR,連續(xù)測試
測量參數(shù) Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
測量量程 100mΩ~100MΩ,10個量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義)
可顯示量程 Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [單位]* ~9.99999G [單位])(*為更高分辯率時的顯示位數(shù))
 只有 Z和Y顯示真有效值
θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)
Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)
基本精度 Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
測量頻率 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)
測量信號電平 正常模式
V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms
CC模式: 10μA~50mArms,10μArms
輸出阻抗 正常模式:100Ω
顯示 單色LCD
測量時間 2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能 比較器,分類測量(BIN功能),面板讀取/保存、存儲功能
接口 EXT I/O(處理器),USB通信(高速)
選件:RS-232C,GP-IB,LAN任選一
電源 100~240V AC,50/60Hz,zuida50VA
尺寸及重量 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件 電源線×1,使用說明書×1,CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1

日本日置LCR測試儀IM3523的選件:

 4端子探頭L2000:DC~8MHz,1m長
4端子開爾文夾9140-10:DC~200kH,50 Ω,1 m長
鑷形探頭L2001:線長73cm,DC~8MHz,50Ω,前端電極間隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
測試治具9261-10:線長1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可測端口直徑:0.3~1.5mm
測試治具9262:DC~8 MHz, 直接連接型
SMD測試治具9263:直接連接型, DC~5 MHz 測試尺寸: 1mm~10.0mm
SMD測試治具9677:用于側面有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD測試治具9699:用于底部有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:寬1.0~4.0mm,高1.5mm以下
GP-IB接口Z3000
RS-232接口Z3001
Oz3002:LAN接口Z3002
GP-IB連接線9151-02:2m長

Z3002-2.jpg

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