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日本日置C測試儀HIOKI 3506-10對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試，模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量，提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實現(xiàn)高反復精度，1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩(wěn)定測量，根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
日本日置C測試儀HIOKI 3504-60封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等，高速測量2ms，能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷，對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能，3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試，35...
日本日置C測試儀HIOKI 3504-50封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等，高速測量2ms，能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷，對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能，3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試，35...
日本日置C測試儀HIOKI 3504-40封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等，高速測量2ms，能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷，對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能，3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試，35...
