阻抗分析儀IM3570

1臺阻抗分析儀IM357實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查，阻抗分析儀IM357主機不標配治具。請根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。1臺阻抗分析儀IM357實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查，阻抗分析儀IM357主機不標配治具。請根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。

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產品詳情

阻抗分析儀IM3570

1臺阻抗分析儀IM357實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查，阻抗分析儀IM357主機不標配治具。請根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。
● 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
● LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
● 基本精度±0.08%的高精度測量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
● 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
● 可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400

阻抗分析儀IM3570測量方式：壓電元件的共振特性的測量
LCR測試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過掃頻測量和峰值比較器功能對共振狀態(tài)進行合格判定，并在LCR模式想能通過1kHz或120Hz的LCR測量進行檢查。掃頻測量和LCR測量一臺儀器全部實現(xiàn)。

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Hioki_阻抗分析儀IM3570

日本日置阻抗分析儀IM3570的技術參數(shù)：

測量模式	LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續(xù)測量
測量參數(shù)	Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
測量量程	100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定）
顯示范圍	Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示值 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度	Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
測量頻率	4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進）
測量信號電平	V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步進（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步進（1.0001MHz以上）
輸出阻抗	普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
顯示	彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF
測量時間	0.5ms（100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF，代表值）
測量速度	FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能	DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能
接口	EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN
電源	AC90~264V，50/60Hz，zuida150VA
打印	拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446）
接口	GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標準)
電源	AC90~264V，50/60Hz，zuida150VA
體積和重量	330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件	電源線×1，使用說明書×1，通訊手冊×1